产品概要
FTS-FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异，人体工程学设计，操作便捷，支持多功能升级，产品功能丰富齐全。
应用方向
常温和高低温环境下的芯片失效分析、射频特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析、芯片内部线路/电ji/PAD测试、IC/面板内部线路修改/去层。
技术特点
失效分析实验室专用
大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计，定位准确
激光可选择性去除特定材料而不损伤下层
材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析
可做LCD液晶热点侦测
适用于IC/面板内部线路修改/去层
可升级用于12英寸以内样品测试
激光zui小可加工精度1*1um
芯片内部线路/电ji/PAD测试
射频特性器件失效分析
