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复坦希X系列半自动探针台_半自动全自动探针台

X系列半自动探针台。型号:FTS-X6 | FTS-X8 | FTS-X12。FTS-X12是一款集成了电学、光波、微波等测试功能的半自动探针台,专业应对12寸Wafer (向下兼容8寸,6寸)Si,GaN,SiC等各类材质的先进芯片的性能测试。可对晶圆、MEMS、生物结构、光电器件以及其他集成电路、LED、LCD、太阳能电池等进行7*24全天候在片探测,并可加载温控系统,满足客户于高低温环境下的各种性能测试要求。

产品详情

产品概要

FTS-X12是一款集成了电学、光波、微波等测试功能的半自动探针台,专业应对12寸Wafer (向下兼容8寸,6寸)Si,GaN,SiC等各类材质的先进芯片的性能测试。可对晶圆、MEMS、生物结构、光电器件以及其他集成电路、LED、LCD、太阳能电池等进行7*24全天候在片探测,并可加载温控系统,满足客户于高低温环境下的各种性能测试要求。

应用方向

各类器件、Wafer等进行I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析、射频测试、大功率测试等。

X系列半自动探针台

技术特点

●运行速度超70mm/s

高测试精度、运行效率与系统稳定性

●人体工程学设计,操作便捷舒适

多倍率光学显示系统,高精度测量与动态监控

●lingxian的内部防震系统装置,运行更稳定

综合控制系统,快速接入仪器测试

软件自动化测试 ,机械精度精确校准

功能丰富,可升级全自动测试



联系方式

复坦希(北京)电子科技有限公司

电话:400 188 5608

QQ:513509635

电邮:futansi-bj-sales@futansi.com

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